半導体試験装置メーカーとして多くのシステムを生み出してきたキャッツ電子設計（CATS）は、実績をもとに新たな発想や技術を組み込み日々先進のシステム開発を行う。電気的特性を検査する「テスター」は、開発設計から製品となるまで、少数精鋭による一貫した工程のなかで創り出されている。

電力用半導体向けのテスター

同社の提供するIPMテストシステム「IPM7550ZZM」は電力用半導体の主力品種であるIPMモジュールやIGBTモジュール用の検査装置として開発されたモデルで、7500V、5000Aでの測定を可能としたハイパワーテスターである。また、Ｌ負荷テスター「LVNF60ZFC」はインダクタンス負荷における耐量を最大600A印加で保証するシステムである。このように電力用半導体に特化したシステム開発を行っており、国内外の半導体メーカーへ数多く納入実績を持っている。

多様なテスターの提供

また他にも過渡熱抵抗・スイッチングタイム等のテストシステムが数多く揃えられ、測定温度マイナス60〜300℃までの環境で評価可能なシステムを開発済み、SiC・GaN新素材の経験も豊富で、多様なニーズを満たすテスターの提供を可能としている。